Next Generation HALT and HASS by John J. Paschkewitz

Kirk A Gray, John James Paschkewitz

Next Generation HALT and HASS by John J. Paschkewitz - 1
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Next Generation HALT and HASS presents a major paradigm shift from reliability predictionbased methods to discovery of electronic systems reliability risks.

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Next Generation HALT and HASS by John J. Paschkewitz
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Next Generation HALT and HASS presents a major paradigm shift from reliability predictionbased methods to discovery of electronic systems reliability risks.

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Caractéristiques

Poids

0.61

Editeur

John Wiley & Sons Inc

Langues

Anglais

EAN

9781118700235

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